1800AG - Waveguide AOI - 半导体类 - 视觉检测类设备 - 产品

产品说明

光波导片外观缺陷检测设备主要针对各类型光波导片、光学玻璃等透明材料外观缺陷进行检测。

优势特点

设备搭载组合光源和高分辨率光学系统，利用光学成像技术，结合传统图像处理算法、深度学习算法来高效、精确地检测各类透明材料上下表面缺陷；
通用性强，兼容华夫盘和扩晶环上下料；
多顶针设计，灵活适配不同尺寸规格的产品检测；
4通道检测工位，设备自动化程度高，可有效替代人工检测，提升生产效率和产品质量。

技术参数

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