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产品说明
光电芯片四面检测分选设备(1500AD)应用于光电类芯片端面、正面和背面缺陷的检测。
优势特点
通过视觉及微动机构配合,自动完成芯片定位;
顶针与吸嘴协同作业,确保芯片快速稳定剥离;
基于纳米级高精度微动平台、高速高精度运动控制软件及算法,实现光学系统的高速自动对焦,获取芯片四个表面的高解析度图像;
双工位作业模式实现了移载工位与检测工位的并行作业,提升设备产能;
模块化设计实现客户不同产品的快速切换。
技术参数
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